在跌落試驗(yàn)中,跌落高度、跌落表面和跌落位置是關(guān)鍵的測(cè)試條件。
相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)包括但不限于:
1、GB/T 2423.8 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落;
2、IEC60068-2-32 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed:自由跌落;
3、GB/T4857.5 包裝 運(yùn)輸包裝件 跌落試驗(yàn)方法。